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產品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置
產品型號：
更新時間：2026-02-27
廠商性質：代理商
訪問量：385
服務熱線19938139269（馬經理）
產品分類
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產品信息
特 點
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅動部，重復再現性高
● 設置的測量項目少，測量簡單
● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
● Rth測量、方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。）
測量項目
● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[°]）
● 橢圓率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
● 什么是RE-200
● RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。
執行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ 。
產品規格
型號 | RE series |
|---|---|
樣品尺寸 | 最小10 x 10mm ～大100 x 100mm |
測量波長 | 550nm （標準仕樣）※1 |
相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
軸檢出重復精度 | 0.05°（at 3Σ） ※2 |
檢出器 | 偏光計測模塊 |
測量光斑直徑 | 2.2mm x 2.2mm |
光源 | 100W 鹵素燈或 LED光源 |
本體?重量 | 300(W) x 560(H) x 430（D) mm 、約20kg |
Option
● Rth測量、方位角測量※治具本體（旋轉：180° 傾斜：±50°）
● 動旋轉傾斜治具
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
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